Микроскопия в материаловедении
Товара нет в наличии
Посмотрите другие книги категории Электроника- ISBN
- 978-5-9729-3339-6
- Кол-во страниц
- 92
- Формат
- 148х210
- Переплет
- КБС (Полноцвет)
- Год
- 2027 Библиографическая запись
С89 Микроскопия в материаловедении : учебное пособие / Э. В. Суворов. – Москва ; Вологда : Инфра-Инженерия, 2027. – 92 с. : ил., табл.
Рассмотрены микроскопические методы изучения структуры и свойств материалов (кристаллов, диэлектриков, полупроводников металлов, сплавов), используемых при производстве приборов электронной, электротехнической промышленности. Для студентов и аспирантов вузов физических и технических направлений – будущих инженеров, научных работников.
Предисловие 5
Введение 6
Глава 1. Микроскопия в видимом диапазоне света (λ ~ 0,4–0,7 мкм) 8
1.1. Физика волн 8
1.1.1. Принцип Гюйгенса – Френеля 10
1.1.2. Законы преломления световых волн на границах раздела сред 13
1.2. Оптика линз 15
1.2.1. Основные элементы рефракционных линз (их обозначения и правила формирования лучей, проходящих через линзу) 16
1.2.2. Правила построения линз и формирование лучей света, проходящих через линзу 17
1.3. Микроскопия видимого диапазона волн (0,4–0,7 мкм) 19
1.3.1. Методы освещения объектов в микроскопии. Светлопольный и темнопольный контраст 21
1.3.2. Амплитудный и фазовый контраст 22
Контрольные вопросы и задания 26
Рекомендуемая литература к главе 1 26
Глава 2. Введение в электронную микроскопию 27
2.1. Схема просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) 28
2.2. Физика электронной оптики 30
2.3. Электронный микроскоп – дифракционный прибор структурных исследований 35
2.4. Передаточная функция электронного микроскопа и её анализ 38
2.5. Примеры применения электронной микроскопии высокого разрешения (HREM) в дифракционном структурном анализе 41
Контрольные вопросы и задания 44
Примеры решения типовых задач 45
Рекомендуемая литература к главе 2 48
Глава 3. Физические основы растровой электронной микроскопии 50
3.1. Физические механизмы взаимодействия электронного зонда с веществом исследуемого образца 53
3.2. Формирование электронного зонда 60
3.3. Область взаимодействия электронов зонда с веществом образца 62
3.4. Детекторы ответных сигналов в растровой электронной микроскопии 65
3.5. Основные механизмы формирования изображения в растровой электронной микроскопии 68
3.6. Примеры методов обработки сигналов в РЭМ 70
3.7. Примеры применения растровой электронной микроскопии 73
Контрольные вопросы и задания 78
Рекомендуемая литература к главе 3 79
Глава 4. Рентгеновский микроанализ 80
4.1. Методы регистрации рентгеновского спектра 80
4.2. Количественный рентгеноспектральный микроанализ 86
Рекомендуемая литература к главе 4 89
Заключение 90
Литература 91
