Растровая электронная микроскопия как инструмент решения инженерных задач в сварке
- ISBN
- 978-5-9729-2061-7
- Объем
- 148
- Формат
- 148х210
- Переплет
- Твердый; Полноцвет
- Год
- 2024
- Вес
- 0,298
Приведены сведения об основах и принципах проведения растровой электронной микроскопии. Описаны основные функциональные возможности Hitachi 3400N. Показаны результаты научных исследований в решении инженерных задач с применением растрового электронного микроскопа: качественный анализ распределения легирующих элементов как по плоскости сканируемого образца, так и по заданному направлению, фрактография, диффузионные слои в сварных соединениях, изучение поверхности свариваемых кромок и сварочной проволоки, причин порообразования в металле шва и другое. Включены как обобщение многочисленных публикаций в отечественной и зарубежной специализированной литературе, так и собственные исследования авторов. Для студентов, магистров, аспирантов технических университетов и институтов, а также специалистов НИИ, КБ, предприятий авиационно-космического комплекса. Материалы книги могут служить основой для разработки технологических рекомендаций, стандартов, определяющих содержание учебных планов, учебно-методических пособий, для профессиональной подготовки инженерных и научных кадров.