Сканирующие зондовые микроскопы
- ISBN
- 978-5-9729-1731-0
- Объем
- 108
- Формат
- 148х210
- Переплет
- Твердый; Полноцвет
- Год
- 2024
- Вес
- 0,242
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
