Каталог
Главная
→ Электроника
→ Сканирующие зондовые микроскопы
Сканирующие зондовые микроскопы
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
Характеристики
- 978-5-9729-1731-0
- Казаков В. Д.
- 108
- 148х210
- Твердый; Полноцвет
- 2024
- 0,242